TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對(duì)液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局(NIST)使用TSI差分靜電遷移率分析儀(DMA)對(duì)60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進(jìn)行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術(shù),在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會(huì)被直接測量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的絕對(duì)粒徑測量精度和測量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品,歷經(jīng)30年深受研究者信任。
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高分辨率數(shù)據(jù):高達(dá)167通道
1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍
符合ISO 15900:2009標(biāo)準(zhǔn)
快速測量:<10s掃描<>
寬濃度范圍,高達(dá) 10 7 顆粒/cm 3
給您最大靈活度的組件設(shè)計(jì)
觸摸屏控制無需電腦操作
免工具安裝易于設(shè)置,自動(dòng)發(fā)現(xiàn)組件
審慎的顆粒測量:適合多模樣品
不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)
寬系統(tǒng)配置選項(xiàng):可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計(jì)數(shù)器;可選傳統(tǒng)的或無輻射中和器
納米技術(shù)研究和材料合成
大氣研究和環(huán)境檢測
燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究
室內(nèi)空氣質(zhì)量測量
成核/凝結(jié)研究
吸入毒理學(xué)研究
包含組件
與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級(jí)器
七款凝聚粒子計(jì)數(shù)器之一
Aerosol Instrument Manager?氣溶膠儀器管理軟件
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